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芯片（金片）電容四參數(shù)測試機
- 產(chǎn)品名稱：芯片（金片）電容四參數(shù)測試機
- 產(chǎn)品型號：HXCS-004B（金片多層電容，單片電容）
- 產(chǎn)品廠商：HUAXIN
- 產(chǎn)品文檔：
芯片（金片）電容四參數(shù)測試機
的詳細介紹|
序號 |
項目 |
技術(shù)參數(shù) |
備注 |
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1 |
測試參數(shù) |
Cp，Df，TV，IR， |
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2 |
測試儀器 |
是德科技容量表E4981A電橋 1臺；日本HIOKI絕緣表 2臺； |
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3 |
容量表 |
測試頻率 |
120Hz 1kHz 、1MHz |
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測試范圍 |
1PF-1mF多擋選擇 |
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測試電壓 |
0-1V |
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測試精度 |
容量：±0.5%（1MHz）；±1% （1KHz）
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4 |
高阻表 |
*少電流分辨率 |
0.01fA， |
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測試電壓 |
DC10～1000V |
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電流測試精度 |
±（1%+10dgt） |
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充電電流 |
2mA～50mA |
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5 |
耐壓表 |
*高測試電壓 |
DC1000V |
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電流測試范圍 |
20pA~2mA |
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電流測試精度 |
±（1%+10dgt） |
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充電電流 |
2mA～50mA |
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6 |
測試芯片規(guī)格 |
本設(shè)備兼容芯片多層電容1515、2020、3030； |
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7 |
設(shè)備空轉(zhuǎn)運行速度 |
150片/分鐘； |
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8 |
測試速度 |
3030: 80~120片/分鐘； 2020/1515：60~80片/分鐘； （在測試過程中，由于每種電容的充電放電測試時間會有所區(qū)別，所以測試速度和產(chǎn)能上會有所區(qū)別的！） |
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9 |
合格**的測試合格率及重測率 |
測試合格率 ≥95%； 重測率≦5%； |
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10 |
測試要求： |
合格倉產(chǎn)品合格率100%（即合格倉不能存在不合格品）； NG倉誤判率≤1.5%； 重測率≤5%； |
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11 |
檔位（8個） |
Df_NG檔 1個，Cp_NG檔1個，重測檔1個，TV/IR_NG檔1個，合格檔 4個； |
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12 |
測試后芯片外觀 |
會產(chǎn)生測試電極接觸痕跡，但能滿足客戶的外觀要求。芯片進行搬送及接觸，無刮傷至露陶瓷體現(xiàn)象。 |
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